美國AEP TECHNOLOGY公司主要供應：美國AEP TECHNOLOGY輪廓儀,AEP TECHNOLOGY磨損試驗機，三維輪廓儀，光學三維輪廓儀，控制器等產品。華聯歐優勢供應美國AEP TECHNOLOGY輪廓儀，歡迎您來采購。

一、美國AEP TECHNOLOGY公司介紹
AEP TECHNOLOGY是表面計量和技術創新的世界引領者。自成立以來，它已經為高技術工程創新領域開創者的研究人員和使用者開發出多種尖端儀器。除了制造光學干涉輪廓儀和接觸式輪廓儀，AEP公司還生產原位和非原位薄膜沉積過程中的應力監視系統。AEP公司產品有高精確度，靈活，易于使用等特點，它們被用于各種各樣的應用。

二、美國AEP TECHNOLOGY部分產品介紹
1.AEP TECHNOLOGY三維輪廓儀NanoMap-D
NanoMap-D (雙模式) 三維輪廓儀使成像提高到一個新的水平。它所具有技術競爭力在于接觸式和光學三維輪廓儀的完美結合。自動采樣運動和一鍵測量功能使得NanoMap-D在三維圖像世界里向前更進一步。通過利用接觸式及非接觸式雙模式基于技術上的優勢獲得獲得全面的表面特性，NanoMap-D給使用者帶來更高水平的的測量靈活性。

2.AEP TECHNOLOGY光學三維輪廓儀NanoMap-WLI
AEP TECHNOLOGY光學三維輪廓儀NanoMap-WLI是白光干涉三維輪廓儀。白光干涉帶來了高的分辨率、 400萬像素的圖像、大的掃描范圍，可定制的波長范范圍，使用戶可以輕松靈活的的測量任何表面輪廓。白光干涉可以呈現2維和3維圖像。利用所提供的軟件，通過設置一些選項、可以得到客戶需求的的曲線、標繪、視圖(例如直方圖及雷達圖等)。

3.AEP TECHNOLOGY三維輪廓儀NanoMap-LS
NanoMap-LS三維輪廓儀擁有探針掃描和樣品臺掃描兩種模式。 探針掃描利用壓力驅動探針在最大范圍達到500x500微米的區域內移動并且產生極高分辨率的圖像。樣品臺掃描則是移動樣品臺來產生高分辨率的圖像。因為壓力驅動比XY軸運動更為精確所以探針掃描產生的圖像要遠遠好于樣品臺掃描得到的圖像。使用者可以通過一個按鍵開關，選擇 NanoMap-LS三維輪廓儀使用探針掃描模式還是樣品臺掃描模式。

4.AEP TECHNOLOGY磨損試驗機UT-3000
磨損試驗機UT-3000使摩擦學和機械測試達到一個新的水平。模塊化設計允許同一平臺上在可控環境條件下進行多種(旋轉，微動，往復，直線，塊上環，壓痕，劃傷等)試驗。基于模塊化結構設計使得UT-3000可以在同一平臺兼容各種測試頭。由于測試頭容易更換使得UT-3000在同一平臺上擁有從nN到5000N的載荷范圍。

5.AEP TECHNOLOGY磨損試驗機NT-30
納米摩擦磨損試驗機NT-30用于研究在原子水平上的相互作用。基于模塊化結構使得NT-30能夠在同一平臺上實現從微牛到30牛的載荷控制。它只需不到5分鐘時間轉換不同的工作頭。NT-30配備了各種可以輕松互換下樣品驅動模塊，如旋轉，往復快速，線性驅動器等。NT-30使用多模實時Z軸下壓力力控制。因為下壓力在測試過程中受控，測試可以在平面或非平面樣品上進行。所有的速度，沖程長度，溫度，濕度等均在密閉系統內受控以確保數據的重復性和再現性。

三、華聯歐供應部分產品型號
①輪廓儀NanoMap-D
②輪廓儀NanoMap-WLI
③輪廓儀NanoMap-LS
④磨損試驗機UT-3000
⑤磨損試驗機NT-30
⑥納米測試儀UNT-30

本文資料及圖片來源于網絡，如有侵權請聯系刪除!!!

_______________________________________________________________________________

以上就是華聯歐優勢供應美國AEP TECHNOLOGY輪廓儀的介紹。華聯歐從事進口機電產品，儀器儀表及各種成套設備的進口貿易與代購服務，主要服務于國內冶金,電力,石化,造紙,礦山,港口,食品等行業用戶。華聯歐公司與德國和美國眾多供應商保持著良好的合作關系，能為客戶爭取到好的價格。經過多年發展華聯歐現已形成了一個穩定而高效的全球化國際供應鏈體系，為客戶提供可靠的進口產品解決方案。