法國LAMTECH用于精加工表面的目視檢查干涉儀 SPI 75
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產品屬性:SPI 視覺檢測儀器允許對研磨、研磨或拋光表面進行平面度檢查。平面度測量儀一樣,SPI干涉儀也是基于光的掠入射原理法國LAMTECH干涉儀 SPI 75。因此,對于無光澤的測試對象,SPI 干涉條紋是可見的。在使用 SPI 檢查之前,不必對零件進行拋光。SPI 可提供 75 和 130 毫米的測量范圍。此外,我們還提供具有增強靈敏度的 SPI-xs。靈敏度設置為 0.3 m/條紋,這對應于使用光學平面和氦燈或鈉燈進行測量的靈敏度法國LAMTECH干涉儀 SPI 75。
主要產品:激光平面度測量儀SP,I目視檢查干涉儀法國LAMTECH干涉儀 SPI 75
產品應用: SPI干涉儀用于零件的視覺平面度檢查 Lamtech Lasermesstechnik 提供干涉儀,用于對精加工零件進行視覺平面度檢查。 為了評估測試對象,將零件放置在 SPI 的玻璃表面上。部分和邊緣比在放大呈現。平面度的評估是基于對顯示的干涉條紋的直線度、平行度和等距的解釋進行的。 干涉儀適合放置在靠近加工機器的生產區域。 法國LAMTECH干涉儀 SPI 75程序 INTDOK (更多) 或打印機可以記錄零件的平整度。 目視檢查干涉儀 SPI – 用于精加工表面的目視平面度檢查 配飾提供可選的靈敏度標準,用于常規控制 SPI 視覺檢查干涉儀的正確靈敏度設法國LAMTECH干涉儀 SPI 75
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