美國TEKTRONIX泰克有限責任公司（英文名Tektronix Inc.,以下簡稱“泰克”）是一家全球領先的測試、測量和監測解決方案提供商。泰克成立于1946年，是世界第一臺觸發式示波器的發明者。當今泰克已成為全球主要的電子測試測量供應商之一，其市場遍布全球各洲。泰克產品主要包括示波器、信號源、電源、邏輯分析儀、頻譜分析儀和誤碼率分析儀，以及各種視頻測試產品。以下內容為您帶來美國TEKTRONIX信號發生器AFG31000概述的相關產品信息及介紹，如您有需要，歡迎隨時來電咨詢！

一、美國TEKTRONIX信號發生器AFG31000概述
泰克信號發生器覆蓋多種應用，從復現傳感器信號到創建RF及高速的串行數據信號。每種通用信號發生器都能創建幾乎無限的信號：模擬信號或數字信號、理想信號或失真信號、標準信號或自定義信號。從簡化接收機測試的、特殊的高速串行數據波形直接合成功能，到常用激勵信號使用的、功能廣泛的任意波形函數發生器，總有一款泰克信號發生器能夠解決您的調試挑戰。如今的設計通常非常復雜，在測試中需要多種激勵信號。泰克函數發生器具有標準波形、任意波形功能和信號損傷選項，通過一臺儀器來支持廣泛的應用需求。強勁的函數發生器性能保證準確復現信號。

二、美國TEKTRONIX信號發生器AFG31000介紹
采用InstaView™技術的AFG31000系列為內置波形發生應用程序、具有實時波形監測功能并采用智能用戶界面的首款高性能任意波函數發生器。泰克AFG31000系列是全新智能型AFG，它內置任意波形發生和實時波形監測功能，并擁有市場上非常大的觸摸屏。全新AFG31000提供了高級波形生成和編程功能，支持波形監測，擁有流行的觸摸屏界面，讓每個科研人員和工程師的測試變得更簡單，讓工作變得更輕松。AFG31000是一款包括內置雙脈沖測試軟件的函數發生器。現在，您可以在一分鐘內直接在觸摸顯示屏上生成兩個具有可變脈沖寬度（從20 ns到150µs）的波形。無需使用外部PC應用程序或手動編輯。打開包裝后，在連續模式下每通道可以生成高達16 M點的精確長波形。可變采集時鐘技術確保您不再丟失任何波形數據。產品功能可升級，您可以進一步提高測試水平并只需花費傳統AWG十分之一的成本進行復雜波形的創建和編輯。

三、美國TEKTRONIX信號發生器AFG31000主要性能指標
1、單或雙通道型號
2、輸出幅度范圍1mVP-P~10VP-P至50?負載
3、基本(AFG)模式：
①25 MHz,50MHz,100MHz,150MHz,或250MHz正弦波形
②250 MSa/s,1GSa/s或2GSa/s采樣率
③14位垂直分辨率
④內置波形包括正弦、方波、鋸齒波、脈沖、噪聲和其他常用波形
⑤掃描、突發和調制模式(AM,FM,PM,FSK和PWM)

4、高級(序列)模式：
①連續模式(選配序列模式、已觸發模式和選通模式)
②每條通道上16Mpts任意波形內存(128Mpts選配)
③序列模式下最多256步，支持循環、跳轉和等待事件
④可變采樣時鐘1µSa/s~2GSa/s

四、美國TEKTRONIX信號發生器AFG31000主要功能
①憑借InstaView™技術，工程師可以實時查看被測器件(DUT)上的實際波形，而不需使用示波器和探頭，降低了因阻抗不匹配引起的不確定度
②波形序列選項可以對復雜的長波形編程，支持最多256步
③9英寸容性觸摸屏的操作與智能手機類似，為常用設置提供了快捷方式
④內置ArbBuilder可以在儀器上創建和編輯任意波形，而不需要連接電腦
⑤可以防止輸出發生過壓和過流，最大限度地降低儀器損壞的潛在風險
⑥兼容TekBench™軟件，在實驗室中幫助學生設置、控制和分析測試結果

五、美國TEKTRONIX信號發生器AFG31000應用
①高級研究
②時鐘和系統同步
③復現真實世界信號
④元器件和電路表征和驗證
⑤嵌入式電路設計和測試
⑥通用信號生成

六、美國TEKTRONIX信號發生器AFG31000性能
AFG31000系列是第一個擁有全功能基本模式(AFG)和高級(序列)模式的任意波函數發生器。在基本模式下，AFG31000生成傳統函數和任意波形。觸摸屏和前面板控制功能可以簡便地進行設置。基本模式可以改變頻率，而不用擔心波形長度和采樣率。這種功能既適合表征濾波器/放大器頻響的模擬設計，也適合時鐘速率經常變化的數字設計。高級模式是AFG31000中提供的新模式，可以生成多個復雜定時的波形。在這種模式下，您可以編寫一個由1~256個波形組成的列表(或序列)，總波形長度可達16Mpts/ch(128Mpts/ch選配)，并定義這些波形的輸出序列。支持重復、轉到、等待、跳轉和已觸發事件，大容量內存可以存儲許多波形或長波形。這種功能特別適合需要順序執行多個測試用例的應用。您不用逐個加載測試用例，而是可以把所有測試用例放到一個序列中，一次性加載這些測試用例，然后從一個測試用例無縫切換到另一個測試用例，大大提高測試效率。

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